以下の論文が、2025年9月に米国カリフォルニア州San Diegoで開催予定の International Test Conference (ITC) に採択されました。
Q. Cheng, H. Chi, C. Liang, Y. Chao, H. Zhang, Y. Liang, M. Zhang, W. Liao, J. Xiong, J. Liou, M. Hashimoto, and L. Lin, “Genshin: a Generalized Framework with Software-Hardware Co-Design and Pruned Fault Injection for Reliability Analysis,” Proceedings of International Test Conference (ITC), to appear.
