U4の稲田くん、北池くん、田川くん、寺内くん、長井くんがLSIとシステムのワークショップにおいて最優秀ポスター賞（学生部門）を受賞しました。
U4 Inada -Kun, Kitaike-Kun, Tagawa-Kun, Yerauchi-Kun, Nagai-Kun has received the Best Poster Award (Student Category) at the LSI and Systems Workshop !
最優秀ポスター賞（学生部門）『バイオ医療IoTに向けた分解能・サイズ・電力スケーラブルなサブテラヘルツ帯ラベルフリー3次元センサアレイの12nmFinFET/22nmCMOSでの理論的・実験的検証』
IEEE Sensors Letters への以下の論文の採録が決定しました．本論文は7月9日〜11日に米国ボストンで開催されるFLEPS2023においても発表します．本研究は，産業技術総合研究所との共同研究の成果です．
.
以下の論文が、2023年7月にギリシャのクレタ島で開催予定のIEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)に採択されました。
R. Iwamoto and M. Hashimoto, “Avoiding Soft Error-Induced Illegal Memory Accesses in GPU with Inter-Thread Communication,” Proceedings of International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), to appear.
2023年5月9日-10日に東京大学で開催されたLSIとシステムのワークショップ 2023で、M2の五味唯美くんが研究成果をポスター発表しました(2023/5/10)。
“ミューオン起因ソフトエラーの物理現象解明に向けた照射実験と解析”
2023年5月9日-10日に東京大学で開催されたLSIとシステムのワークショップ 2023にて，M2の田中稔久くんが，電子情報通信学会 集積回路研究会から優秀若手講演賞を授与されました．
昨年12月に発表した，下記の論文・発表が対象です．
田中稔久，白井僚，橋本昌宜，“磁性体金属異物に対してロバストな直流磁界を用いた位置推定手法，” 電子情報通信学会 集積回路研究会，2022年12月．
以下の論文が、2023年7月に米国ボストン市で開催予定のIEEE International Conference on Flexible, Printable Sensors and Systems (FLEPS 2023)に採択されました。本研究は、産業技術総合研究所との共同研究の成果です。
Qin Zhaoxing, Kunihiro Oshima, Kazunori Kuribara, and Takashi Sato, “OPTL: Robust and area-efficient pass gate logic for organic transistors,” in Proc. IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS), to appear.
新津先生の論文がScientific Reportsに採択されました。
Prof. Niitsu’s papers is accepted to Scientific Reports !
Shiori Imai, Haruki Homma, Kairi Takimoto, Mizuki Tanikawa, Jin Nakamura, Masaya, Kaneko, Yuya Osaki, Kiichi Niitsu, Cheng Yongzhi, Ashif Aminulloh Fathnan, Hiroki Wakatsuchi , “Design guidelines for the SPICE parameters of waveform-selective metasurfaces varying with the incident pulse width at a constant oscillation frequency”
2023年4月10-11日に川崎市で開催された電子情報通信学会ICD研究会にてM2の五味が研究成果の発表を行いました(2023/4/10)。東大、理研、九大、原研、KEK/J-PARCとの共同研究成果です。
五味唯美, 高見一総, 水野るり惠, 新倉潤, Y. DENG, 川瀬頒一郎, 渡辺幸信, 安部晋一郎, 廖望, 反保元伸, 梅垣いづみ, 竹下聡史, 下村浩一郎, 三宅康博, 橋本昌宜, “12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価,” 電子情報通信学会 集積回路研究会, 2023年4月.
2023年3月26～3月30日にアメリカ・カリフォルニア州・モントレーで開催された International Reliability Physics Symposium (IRPS)にて、B4の高見がポスター発表を行いました(2023/3/29)。
K. Takami, Y. Gomi, S. Abe, W. Liao, S. Manabe, T. Matsumoto, and M. Hashimoto, “Characterizing SEU Cross Sections of 12- and 28-nm SRAMs for 6.0, 8.0, and 14.8 MeV Neutrons,” Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023.
