以下の論文が、2024年4月に米国ダラスで開催予定の International Symposium on Reliability Physics (IRPS)に採択されました。
K. Takeuchi, T. Kato, and M. Hashimoto, “An SEU Cross Section Model Reproducing LET and Voltage Dependence in Bulk Planar and FinFET SRAMs,” Proceedings of International Symposium on Reliability Physics (IRPS), to appear.
