DAC2025

2025年6月22日~6月25日に米国サンフランシスコで開催されたACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) 2025にて以下の2件の研究発表を行いました (発表日は6月23日(Guo), 24日(田形))。DACは、集積回路設計におけるトップ会議です。

  • X. Guo, H. Awano, and T. Sato, “Weighted Range-Constrained Ising-Model Decoder for
    Quantum Error Correction,” in Proc. ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), pp.1-6, July 2025.
  • H. Tagata, T. Sato, and H. Awano, “Lookup Table-based Multiplication-free All-digital DNN Accelerator Featuring Self-Synchronous Pipeline Accumulation,” in Proc. ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), pp.1-6, July 2025.

IEEE Sensors Letters / IEEE Sensors Conference 採録決定

IEEE Sensors Letters へ以下の論文の採録が決定しました。本研究は 京都大学成長戦略本部 インフラ先端技術産学共同研究部門との共同研究成果です。

Ryosuke Sada, Toshihisa Tanaka, Hisafumi Asaue, Tomoki Shiotani, Masanori Hashimoto, and Ryo Shirai, “Localization of Embedded Sensors in Reinforced Concrete via Time-Series Magnetic Field Sensing and Maximum Likelihood Estimation,” IEEE Sensors Letters, accepted, to appear.

本論文は,2025年にカナダ・バンクーバーで開催される IEEE Sensors Conference 2025 においても発表予定です。

IACR TCHES論文出版

国際暗号学会 (IACR) の学術雑誌 IACR Transactions on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (TCHES) に以下の論文が出版されました。本論文は、東北大学とNTT社会情報研究所、NECとの共同研究の成果です。本成果については、2025年9月開催予定のIACR主催の国際会議 International Conference on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (CHES) にて発表されます。

Rei Ueno, Akira Ito, Yosuke Todo, Akiko Inoue, Kazuhiko Minematsu, Hibiki Ishikawa, and Naofumi Homma, “All You Need is XOR-Convolution: A Generalized Higher-Order Side-Channel Attack with Application to XEX/XE-based Encryptions,” IACR Transactions on Cryptographic Hardware and Embedded Systems, 2025(3), pp. 317-360, 2025. https://doi.org/10.46586/tches.v2025.i3.317-360

IEEE Transactions on Nuclear Science 採録決定

IEEE Transactions on Nuclear Science へ以下の論文が採録されました。2024年9月に学位を取得された竹内さんの研究成果です。

K. Takeuchi, K. Sakamoto, Y. Tsuchiya, T. Kato, R. Nakamura, A. Takeyama, T. Makino, T. Ohshima, M. Hashimoto, H. Shindo, “Cross-section Prediction Method for Proton Direct Ionization Induced Single Event Upset,” in IEEE Transactions on Nuclear Science, doi: 10.1109/TNS.2025.3568455.

IEEE Transactions on Nuclear Science 採録決定

IEEE Transactions on Nuclear Science へ以下の論文が採録されました。Yang Liさんが1年間の特別研究学生として滞在した時の研究成果です。

Yang Li, Masakazu Yoshida, Yuibi Gomi, Yifan Deng, Yukinobu Watanabe, Satoshi Adachi, Masatoshi Itoh, Guohe Zhang, Chaohui He, and Masanori Hashimoto, “Experimental Study of Proton-Induced Radiation Effects on DDR5 Modules,” in IEEE Transactions on Nuclear Science, doi: 10.1109/TNS.2025.3565125.

IEEE Sensors Journal 採録決定

IEEE Sensors Journal へ以下の論文の採録が決定しました。

Ryota Fukugasako, Hisafumi Asaue, Tomoki Shiotani, Masanori Hashimoto, and Ryo Shirai,  “A Current Chopper-assisted Magnetic Field-based Backscatter Communication Method with WPT Overcoming Ultra-low Coupling Coefficients,” in IEEE Sensors Journal, doi: 10.1109/JSEN.2025.3555072.

IEEE Transactions on Nuclear Science 採録決定

IEEE Transactions on Nuclear Science へ以下の論文が採録されました。

Yuibi Gomi, Kazusa Takami, Rurie Mizuno, Megumi Niikura, Ryuichi Yasuda, Yifan Deng, Shoichiro Kawase, Yukinobu Watanabe, Shin-ichiro Abe, Wang Liao, Motonobu Tampo, Soshi Takeshita, Koichiro Shimomura, Yasuhiro Miyake and Masanori Hashimoto, “Muon-Induced SEU Analysis and Simulation for Different Cell Types in 12-nm FinFET SRAMs, and 28-nm Planar SRAMs and Register Files,” in IEEE Transactions on Nuclear Science, doi: 10.1109/TNS.2025.3542468.

Kazusa Takami, Yuibi Gomi, Ryuichi Yasuda, Shin-ichiro Abe, Masatoshi Itoh, Hiroki Kanda, Mitsuhiro Fukuda and Masanori Hashimoto, “Validating Terrestrial SER in 12-, 28- and 65-nm SRAMs Estimated by Simulation Coupled with One-Time Neutron Irradiation,” in IEEE Transactions on Nuclear Science, doi: 10.1109/TNS.2025.3534564.

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems採録決定

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems へ以下の論文が採録されました。

      

  • Sosei Ikeda, Hiromitsu Awano, and Takashi Sato, “Online training and inference system on edge FPGA using delayed feedback reservoir,” IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, doi: 10.1109/TCAD.2025.3541565, available as early access.