国際暗号学会 (IACR) の学術雑誌 IACR Transactions on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (TCHES) に以下の論文が掲載されました。本成果については、2026年9月開催予定のIACR主催の国際会議 International Conference on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (CHES) にて発表されます。
IEEE Transactions on Computers に以下の論文が採録されました。本研究は早稲田大学との共同研究の成果です。
以下の論文が IEEE Access に採択されました。本発表は京都工芸繊維大学との共同研究の成果です。
以下の論文がIEEE Solid-State Circuits Lettersに採録されました。
Y. Gomi, A. Sato, W. Madany, K. Okada, S. Adachi, M. Itoh, and M. Hashimoto, “A 55-nm SRAM Chip Scanning Errors Every 125 ns for Event-Wise Soft Error Measurement,” in IEEE Solid-State Circuits Letters, doi: 10.1109/LSSC.2025.3589611.
以下の論文が IEEE Access に採択されました。日立製作所との共同研究の成果です。
H. Itsuji, T. Uezono, T. Toba, K. Ito and M. Hashimoto, “A Hardware-Aware Failure-Detection Method for GPU Control-Logic,” in IEEE Access, vol. 13, pp. 113890-113904, 2025, doi: 10.1109/ACCESS.2025.3584759.
2025年6月22日～6月25日に米国サンフランシスコで開催されたACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) 2025にて以下の2件の研究発表を行いました (発表日は6月23日(Guo), 24日(田形))。DACは、集積回路設計におけるトップ会議です。
IEEE Sensors Letters へ以下の論文の採録が決定しました。本研究は 京都大学成長戦略本部 インフラ先端技術産学共同研究部門との共同研究成果です。
Ryosuke Sada, Toshihisa Tanaka, Hisafumi Asaue, Tomoki Shiotani, Masanori Hashimoto, and Ryo Shirai, “Localization of Embedded Sensors in Reinforced Concrete via Time-Series Magnetic Field Sensing and Maximum Likelihood Estimation,” IEEE Sensors Letters, accepted, to appear.
本論文は，2025年にカナダ・バンクーバーで開催される IEEE Sensors Conference 2025 においても発表予定です。
国際暗号学会 (IACR) の学術雑誌 IACR Transactions on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (TCHES) に以下の論文が出版されました。本論文は、東北大学とNTT社会情報研究所、NECとの共同研究の成果です。本成果については、2025年9月開催予定のIACR主催の国際会議 International Conference on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (CHES) にて発表されます。
Rei Ueno, Akira Ito, Yosuke Todo, Akiko Inoue, Kazuhiko Minematsu, Hibiki Ishikawa, and Naofumi Homma, “All You Need is XOR-Convolution: A Generalized Higher-Order Side-Channel Attack with Application to XEX/XE-based Encryptions,” IACR Transactions on Cryptographic Hardware and Embedded Systems, 2025(3), pp. 317-360, 2025. https://doi.org/10.46586/tches.v2025.i3.317-360
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability に以下の論文が採録されました。
Shufan Xu, Kunyang Liu, Kiichi Niitsu and Hirofumi Shinohara, “Statistical Model and Transistor Size Effect of Hot Carrier Injection for Stability Reinforced SRAM Physically Unclonable Function,” IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, doi: 10.1109/TDMR.2025.3574796.
IEEE Transactions on Electron Devices に以下の論文が採録されました。本研究は京都工芸繊維大学との共同研究の成果です。