IEEE Sensors Letters採録決定

IEEE Sensors Letters への以下の論文の採録が決定しました.本論文は7月9日〜11日に米国ボストンで開催されるFLEPS2023においても発表します.本研究は,産業技術総合研究所との共同研究の成果です.

  • K. Oshima, K. Kuribara, and T. Sato, “Flex-SNN: Spiking neural network on flexible substrate,” IEEE Sensors Letters, (accepted for publication). doi: 10.1109/LSENS.2023.3271988
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IOLTS 2023 採択決定

以下の論文が、2023年7月にギリシャのクレタ島で開催予定のIEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)に採択されました。

R. Iwamoto and M. Hashimoto, “Avoiding Soft Error-Induced Illegal Memory Accesses in GPU with Inter-Thread Communication,” Proceedings of International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), to appear.

電子情報通信学会 集積回路研究会 優秀若手講演賞受賞

2023年5月9日-10日に東京大学で開催されたLSIとシステムのワークショップ 2023にて,M2の田中稔久くんが,電子情報通信学会 集積回路研究会から優秀若手講演賞を授与されました.
昨年12月に発表した,下記の論文・発表が対象です.

田中稔久,白井僚,橋本昌宜,“磁性体金属異物に対してロバストな直流磁界を用いた位置推定手法,” 電子情報通信学会 集積回路研究会,2022年12月.

FLEPS2023 採択決定

以下の論文が、2023年7月に米国ボストン市で開催予定のIEEE International Conference on Flexible, Printable Sensors and Systems (FLEPS 2023)に採択されました。本研究は、産業技術総合研究所との共同研究の成果です。

Qin Zhaoxing, Kunihiro Oshima, Kazunori Kuribara, and Takashi Sato, “OPTL: Robust and area-efficient pass gate logic for organic transistors,” in Proc. IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS), to appear.

ICD研究会

2023年4月10-11日に川崎市で開催された電子情報通信学会ICD研究会にてM2の五味が研究成果の発表を行いました(2023/4/10)。東大、理研、九大、原研、KEK/J-PARCとの共同研究成果です。

五味唯美, 高見一総, 水野るり惠, 新倉潤, Y. DENG, 川瀬頒一郎, 渡辺幸信, 安部晋一郎, 廖望, 反保元伸, 梅垣いづみ, 竹下聡史, 下村浩一郎, 三宅康博, 橋本昌宜, “12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価,” 電子情報通信学会 集積回路研究会, 2023年4月.

IRPS 2023

2023年3月26~3月30日にアメリカ・カリフォルニア州・モントレーで開催された International Reliability Physics Symposium (IRPS)にて、B4の高見がポスター発表を行いました(2023/3/29)。

K. Takami, Y. Gomi, S. Abe, W. Liao, S. Manabe, T. Matsumoto, and M. Hashimoto, “Characterizing SEU Cross Sections of 12- and 28-nm SRAMs for 6.0, 8.0, and 14.8 MeV Neutrons,” Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023.

ICMTS2023

2023年3月27日~3月30日に東大駒場キャンパスで開催されたInternational Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2023)にて,M1の新山が研究発表を行いました(発表日は30日).

  • K. Niiyama, H. Awano, and T. Sato, “Introducing transfer learning framework on device modeling by machine learning,” in Proc. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), pp.158-163, March 2023.

ACM IUI 2023

2023年3月26~3月31日にオーストラリア・シドニーで開催された28th Annual Conference on Intelligent User Interfaces (ACM IUI)にて,M1の播磨屋がポスター発表を行いました.

M. Harimaya, R. Shirai, and M. Hashimoto, “Toward Instant 3D Modeling: Highly Parallelizable Shape Reproduction Method for Soft Object Containing Numerous Tiny Position Trackers,”in Companion Proceedings of the 28th International Conference on Intelligent User Interfaces (IUI), pp. 130–133, March 2022.