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Conference / Workshop

SSDM 2023

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2023年9月5〜8日に名古屋国際会議場で開催されたSSDM2023 (International Conference on Solid State Devices and Materials 2023)において，2件の研究発表を行いました．

  • Kazunori Kuribara, Atsushi Takei, Takashi Sato, and Manabu Yoshida, “Low voltage operation of organic thin-film transistor with atmospheric coating of high-k polymer dielectric,” in Proc. International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), pp.195-196, September 2023.
  • Hiroki Urabe, Kunihiro Oshima, and Takashi Sato, “Feasibility study of PLL-based analog-to-digital converter for low-voltage organic thin-film transistors,” in Proc. International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), pp.795-796, September 2023.
Publication

IEEE Transactions on Circuits and Systems I 論文採択

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以下の論文がIEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers に受理されました。

Q. Cheng, M. Huang, C. Man, A. Shen, L. Dai, H. Yu, and M. Hashimoto, “Reliability Exploration of System-On-Chip with Multi-Bit-Width Accelerator for Multi-Precision Deep Neural Networks,” IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, in early access, DOI: 10.1109/TCSI.2023.3300899.

Conference / Workshop

DAC2023

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2023年7月9日-13日に米国カリフォルニア州サンフランシスコで開催されたDesign Automation Conference (DAC)において、M2の池田が、WIPセッションにてポスター発表を行いました。

S. Ikeda, H. Awano, and T. Sato, “No-NL DFR: New model of digital delayed feedback reservoir without nonlinear elements”

Conference / Workshop

SSDM 2023 採録決定

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以下の論文がInternational Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM) 2022に採択されました。本研究は、産業技術総合研究所との共同研究の成果です。

  • H. Urabe, K. Oshima, and T. Sato, “Feasibility study of PLL-based analog-to-digital converter for low-voltage organic thin-film transistors,” in Proc. International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), September 2023. (to appear)
  • K. Kuribara, A. Takei, T. Sato, and M. Yoshida, “Low voltage operation of organic thin-film transistor with atmospheric coating of high-k polymer dielectric,” in Proc. International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), September 2023. (to appear)
Conference / Workshop/Publication

ACM TECS掲載決定

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ACM Transactions on Embedded Computing Systems (TECS)に以下の論文が採録されました。また本研究は、2023年9月にドイツ・ハンブルグで開催されるEmbedded System Week (ESWeek)を構成する国際会議の一つである
International Conference on Compilers, Architectures, and Synthesis for Embedded Systems (CASES)において口頭発表も行います。

Sosei Ikeda, Hiromitsu Awano, and Takashi Sato, “Modular DFR: Digital delayed feedback reservoir model for enhancing design flexibility,” ACM Transactions on Embedded Computing Systems (TECS), accepted for publication.

Conference / Workshop

ITC2023 採択決定

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以下の論文が、2023年10月に米国アナハイム市で開催予定のInternational Test Conference (ITC 2023)に採択されました。本研究は、ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング、京都工芸繊維大学、奈良先端科学技術大学院大学との共同研究の成果です。

Makoto Eiki, Tomoki Nakamura, Masuo Kajiyama, Michiko Inoue, Takashi Sato and Michihiro Shintani, “Improving efficiency and robustness of Gaussian process based outlier detection via ensemble learning,” in Proc. International Test Conference (ITS) 2023, to appear.

Conference / Workshop

RADECS 2023 採択決定

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以下の論文が、2023年9月にフランスのトゥールーズで開催予定のEuropean Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) 2023 に採択されました。

Y. Gomi, K. Takami, R. Mizuno, M. Niikura, Y. Deng, S. Kawase, Y. Watanabe, S. Abe, W. Liao, M. Tampo, I. Umegaki, S. Takeshita, K. Shimomura, Y. Miyake, and M. Hashimoto, “Muon-Induced SEU Cross Sections of 12-nm FinFET and 28-nm Planar SRAMs,” Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), to appear.

以下の論文は、同RADECS 2023の Data Workshop に採択されました。

M. Yoshida, R. Iwamoto, M. Itoh, and M. Hashimoto, “Stuck Errors in Bits and Blocks in GDDR6 under High-Energy Neutron Irradiation,” Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), to appear.

Announcement

プレスリリース (電子機器の信頼性評価の迅速化に光明～様々な中性子施設で半導体ソフトエラー評価を可能にする技術を開発～)

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JST OPERA の研究成果について、日本原子力研究開発機構、株式会社ソシオネクスト、HIREC株式会社、京都工芸繊維大学、九州大学と共同プレスリリースを行いました (2023/6/5)。
本手法によって、限られた特殊な中性子源を用いることなく国内外に多数ある一般の中性子源を用いたソフトエラー率評価が可能となり、高まるソフトエラー率評価の需要に応じることができます。

本プレスリリースは以下の論文が中心となっています。

S. Abe, M. Hashimoto, W. Liao, T. Kato, H. Asai, K. Shimbo, H. Matsuyama, T. Sato, K. Kobayashi, and Y. Watanabe, “A Terrestrial SER Estimation Methodology Based on Simulation Coupled with One-Time Neutron Irradiation Testing,” IEEE Transactions on Nuclear Science, in early access.
DOI: 10.1109/TNS.2023.3280190

Publication

IEEE Transactions on Nuclear Science 論文掲載

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以下の論文がIEEE Transactions on Nuclear Scienceに受理されました。日本原子力研究開発機構、東京大学、ソシオネクスト、HIREC、日立製作所、京都工芸繊維大学、九州大学との共同研究です。

S. Abe, M. Hashimoto, W. Liao, T. Kato, H. Asai, K. Shimbo, H. Matsuyama, T. Sato, K. Kobayashi, and Y. Watanabe, “A Terrestrial SER Estimation Methodology Based on Simulation Coupled with One-Time Neutron Irradiation Testing,” IEEE Transactions on Nuclear Science, in early access.
DOI: 10.1109/TNS.2023.3280190