2023年5月9日-10日に東京大学で開催されたLSIとシステムのワークショップ 2023で、M2の五味唯美くんが研究成果をポスター発表しました(2023/5/10)。
“ミューオン起因ソフトエラーの物理現象解明に向けた照射実験と解析”
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電子情報通信学会 集積回路研究会 優秀若手講演賞受賞
2023年5月9日-10日に東京大学で開催されたLSIとシステムのワークショップ 2023にて，M2の田中稔久くんが，電子情報通信学会 集積回路研究会から優秀若手講演賞を授与されました．
昨年12月に発表した，下記の論文・発表が対象です．
田中稔久，白井僚，橋本昌宜，“磁性体金属異物に対してロバストな直流磁界を用いた位置推定手法，” 電子情報通信学会 集積回路研究会，2022年12月．
FLEPS2023 採択決定
以下の論文が、2023年7月に米国ボストン市で開催予定のIEEE International Conference on Flexible, Printable Sensors and Systems (FLEPS 2023)に採択されました。本研究は、産業技術総合研究所との共同研究の成果です。
Qin Zhaoxing, Kunihiro Oshima, Kazunori Kuribara, and Takashi Sato, “OPTL: Robust and area-efficient pass gate logic for organic transistors,” in Proc. IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS), to appear.
Scientific Reports採録決定
新津先生の論文がScientific Reportsに採択されました。
Prof. Niitsu’s papers is accepted to Scientific Reports !
Shiori Imai, Haruki Homma, Kairi Takimoto, Mizuki Tanikawa, Jin Nakamura, Masaya, Kaneko, Yuya Osaki, Kiichi Niitsu, Cheng Yongzhi, Ashif Aminulloh Fathnan, Hiroki Wakatsuchi , “Design guidelines for the SPICE parameters of waveform-selective metasurfaces varying with the incident pulse width at a constant oscillation frequency”
ICD研究会
2023年4月10-11日に川崎市で開催された電子情報通信学会ICD研究会にてM2の五味が研究成果の発表を行いました(2023/4/10)。東大、理研、九大、原研、KEK/J-PARCとの共同研究成果です。
五味唯美, 高見一総, 水野るり惠, 新倉潤, Y. DENG, 川瀬頒一郎, 渡辺幸信, 安部晋一郎, 廖望, 反保元伸, 梅垣いづみ, 竹下聡史, 下村浩一郎, 三宅康博, 橋本昌宜, “12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価,” 電子情報通信学会 集積回路研究会, 2023年4月.
IRPS 2023
2023年3月26～3月30日にアメリカ・カリフォルニア州・モントレーで開催された International Reliability Physics Symposium (IRPS)にて、B4の高見がポスター発表を行いました(2023/3/29)。
K. Takami, Y. Gomi, S. Abe, W. Liao, S. Manabe, T. Matsumoto, and M. Hashimoto, “Characterizing SEU Cross Sections of 12- and 28-nm SRAMs for 6.0, 8.0, and 14.8 MeV Neutrons,” Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023.
ICMTS2023
2023年3月27日～3月30日に東大駒場キャンパスで開催されたInternational Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2023)にて，M1の新山が研究発表を行いました（発表日は30日）．
- K. Niiyama, H. Awano, and T. Sato, “Introducing transfer learning framework on device modeling by machine learning,” in Proc. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), pp.158-163, March 2023.
ACM IUI 2023
2023年3月26～3月31日にオーストラリア・シドニーで開催された28th Annual Conference on Intelligent User Interfaces (ACM IUI)にて，M1の播磨屋がポスター発表を行いました．
M. Harimaya, R. Shirai, and M. Hashimoto, “Toward Instant 3D Modeling: Highly Parallelizable Shape Reproduction Method for Soft Object Containing Numerous Tiny Position Trackers,”in Companion Proceedings of the 28th International Conference on Intelligent User Interfaces (IUI), pp. 130–133, March 2022.
IEEE Access 論文採録
IEEE Access へ以下の論文が採録されました．
本研究は東京工業大学との共同研究によるものです．
Á. L. García-Arias, Y. Okoshi, M. Hashimoto, M. Motomura and J. Yu, “Recurrent Residual Networks Contain Stronger Lottery Tickets,” in IEEE Access, doi: 10.1109/ACCESS.2023.3245808.