以下の論文が、2023年10月に米国アナハイム市で開催予定のInternational Test Conference (ITC 2023)に採択されました。本研究は、ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング、京都工芸繊維大学、奈良先端科学技術大学院大学との共同研究の成果です。
Makoto Eiki, Tomoki Nakamura, Masuo Kajiyama, Michiko Inoue, Takashi Sato and Michihiro Shintani, “Improving efficiency and robustness of Gaussian process based outlier detection via ensemble learning,” in Proc. International Test Conference (ITS) 2023, to appear.
