IEEE Transactions on Nuclear Science へ以下の論文が採録されました。本研究は九州大学, 産業技術総合研究所, 高知工科大学, 日本原子力研究開発機構, 高エネルギー加速器研究機構との共同研究です。
Y. Deng, Y. Watanabe, S. Manabe, W. Liao, M. Hashimoto, S. Abe, M. Tampo, and Y. Miyake, “Impact of Irradiation Side on Muon-Induced Single Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs,” in IEEE Transactions on Nuclear Science, doi: 10.1109/TNS.2024.3378216 in press.
