2023年1月17日に佐賀県教育会館で開催された電子情報通信学会MICT研究会にて本研究室M1の平井が研究発表を行いました.
- 平井 貴之, 粟野 皓光, 佐藤 高史:
“パケットキャプチャを用いた睡眠時の姿勢推定”, 電子情報通信学会技術研究報告(MICT研究会) (於 佐賀県教育会館), vol. 122, no. 334, MICT2022-43, pp.1-6, 2023年1月.
2023年1月17日に佐賀県教育会館で開催された電子情報通信学会MICT研究会にて本研究室M1の平井が研究発表を行いました.
以下の論文が採録されました。原研、東大、産総研との共同研究成果です。2023年3月にカリフォルニア州モントレーで発表します。
K. Takami, Y. Gomi, S. Abe, W. Liao, S. Manabe, T. Matsumoto, and M. Hashimoto, “Characterizing SEU Cross Sections of 12- and 28-nm SRAMs for 6.0, 8.0, and 14.8 MeV Neutrons,” Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), to appear.
台湾台中市のEvergreen Laurel Hotelで11/21-11/23にハイブリッド開催されたAsian Test Symposium (ATS)で佐藤先生が招待講演を行いました(2022/11/23)。
“Evaluation of device characteristic changes in X-ray inspection”
2022年10月24日〜10月25日に弘前市で開催されたWorkshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information Technologies (SASIMI2022)にて,本研究室の一柳,瀬川がポスター発表を行いました(発表日は一柳が24日,瀬川が25日).
2022年9月26〜29日に開催されたSSDM2022 (International Conference on Solid State Devices and Materials 2020)において,2件の研究発表を行いました (発表日はいずれも28日).いずれも産総研との共同研究の成果です。
慶應義塾大学 矢上キャンパスで9/13-9/15にハイブリッド開催された情報科学技術フォーラム(FIT2022)におけるトップコンファレンスセッションで橋本がオンラインで招待講演を行いました(2022/9/13)。ISSCC2020での発表内容です。
“ビアスイッチFPGA: 65nm CMOS実装とAI向けアーキテクチャ拡張”
茨城大学日立キャンパスで9/7-9/9に開催された原子力学会 2022秋の大会で橋本が招待講演を行いました(2022/9/8)。
“ミュオン起因ソフトエラーの測定と課題”
オンラインで9/6-9/9に開催された電子情報通信学会 ソサイエティ大会で白井が招待講演を行いました(2022/9/7)。
“Society 6.0 を目指した,IoT 機器のパーベイシブ化に必要な要素”
2022年8月31日~9月2日にハイブリッド開催(開催地は鳥羽シーサイドホテル)されたDAシンポジウム2022にて、以下の発表を行いました(発表日は上2件が9月1日, 下2件が9月2日)。
田形 寛斗, 佐藤 高史, 粟野 皓光, “8T-SRAMを用いた同時2入力対応な2値化ニューラルネットワーク用インメモリアクセラレータ”, DAシンポジウム2022, 5B-2, 2022年9月.
羽原 丈博, 佐藤 高史, 粟野 皓光, “適応的閾値制御に基づくスパイキングニューラルネットワークの推論エネルギー削減”, DAシンポジウム2022, 10A-2, 2022年9月.
岩本陸, 橋本昌宜, “GPU アプリケーションのスレッド間通信を用いた不正メモリアクセス検出手法の検討,” DAシンポジウム, 2022年9月.
田上凱斗, 橋本昌宜, “RISC-Vプロセッサにおける故障注入実験及び中性子照射実験の結果比較,” DAシンポジウム, 2022年9月.
また1件目の発表について優秀ポスター発表賞を受賞しました.
また昨年度の発表に対してセッション特別賞が授与されました(8月31日)。
橋本が2022/8/24-26の日程で台北で開催されたInternational Test Conference in Asia (ITC-Asia)でキーノート講演を行いました。残念ながらオンラインで講演しました (2022/8/25)。
“Toward Correct Understanding and Characterization of Cosmic Ray-induced Soft Errors”