3回生(研究室配属対象者)向け研究室説明会2025

集積システム工学講座では,2025年2月20日(木曜)に研究室説明会を行います.

日時:2025年2月20日(木曜) 13:00-15:30
集合場所: 総合研究9号館北棟 2階N2講義室
進め方: 最初の20-30分が全体説明で、その後3つのグループに分かれて3研究室を順に見学します。

本説明会は本学電気電子工学科における研究室配属対象者向けであり,対象者以外は参加できません.

JST CRONOS

新津研究グループの研究課題が国立研究開発法人 科学技術振興機構 戦略的創造研究推進事業 情報通信科学・イノベーション基盤創出(JST CRONOS)に採択されました。

Niitsu Group’s research proposal is accepted to JST CRONOS!

研究課題名『動的環境順応時空間拡張に資する半導体共進化微細IoT』

科学技術振興機構プレスリリース

新津研究グループの研究が国立研究開発法人 科学技術振興機構にプレスリリースされました。

Niitsu Group’s research has been published in a press release to Japan Science and Technology Advancement (JST)!

Hiroaki Kitaike, Masaharu Inada, Mitsuru Terauchi, Hironori Tagawa, Ryosuke Nagai, Shufan Xu, Ruilin Zhang, Kunyang Liu, and Kiichi Niitsu, “A 0.9-2.6pW 0.1-0.25V 22nm 2-bit Supply-to-Digital Converter Using Always-Activated Supply-Controlled Oscillator and Supply-Dependent-Activation Buffers for Bio-Fuel-Cell-Powered-and-Sensed Time-Stamped Bio-Recording”

https://www.jst.go.jp/pr/announce/20240617/index.html

プレスリリース (電子機器の信頼性評価の迅速化に光明~様々な中性子施設で半導体ソフトエラー評価を可能にする技術を開発~)

JST OPERA の研究成果について、日本原子力研究開発機構、株式会社ソシオネクスト、HIREC株式会社、京都工芸繊維大学、九州大学と共同プレスリリースを行いました (2023/6/5)。
本手法によって、限られた特殊な中性子源を用いることなく国内外に多数ある一般の中性子源を用いたソフトエラー率評価が可能となり、高まるソフトエラー率評価の需要に応じることができます。

本プレスリリースは以下の論文が中心となっています。

S. Abe, M. Hashimoto, W. Liao, T. Kato, H. Asai, K. Shimbo, H. Matsuyama, T. Sato, K. Kobayashi, and Y. Watanabe, “A Terrestrial SER Estimation Methodology Based on Simulation Coupled with One-Time Neutron Irradiation Testing,” IEEE Transactions on Nuclear Science, in early access.
DOI: 10.1109/TNS.2023.3280190

プレスリリース (宇宙線のミュオンと中性子が引き起こす 半導体ソフトエラーの違いを解明)

ソシオネクストとの共同研究研究について、高エネルギー加速器研究機構 物質構造科学研究所、京都大学複合原子力科学研究所、大阪大学大学院情報科学研究科から共同プレスリリースを行いました (2021/7/16)。大阪大学在籍時の成果です。

https://www.socionext.com/jp/pr/sn_pr20210716_01j.pdf

https://www.kek.jp/ja/press/20210716/

https://www.kyoto-u.ac.jp/ja/research-news/2021-07-16-0

https://resou.osaka-u.ac.jp/ja/research/2021/20210716_2

プレスリリースのもととなった論文は以下の論文です。

T. Kato, M. Tampo, S. Takeshita, H. Tanaka, H. Matsuyama, M. Hashimoto, and Y. Miyake, “Muon-Induced Single-Event Upsets in 20-nm SRAMs: Comparative Characterization with Neutrons and Alpha Particles,” IEEE Transactions on Nuclear Science, 68(7), pp. 1436-1444, July 2021.