プレスリリース (電子機器の信頼性評価の迅速化に光明~様々な中性子施設で半導体ソフトエラー評価を可能にする技術を開発~)

JST OPERA の研究成果について、日本原子力研究開発機構、株式会社ソシオネクスト、HIREC株式会社、京都工芸繊維大学、九州大学と共同プレスリリースを行いました (2023/6/5)。
本手法によって、限られた特殊な中性子源を用いることなく国内外に多数ある一般の中性子源を用いたソフトエラー率評価が可能となり、高まるソフトエラー率評価の需要に応じることができます。

本プレスリリースは以下の論文が中心となっています。

S. Abe, M. Hashimoto, W. Liao, T. Kato, H. Asai, K. Shimbo, H. Matsuyama, T. Sato, K. Kobayashi, and Y. Watanabe, “A Terrestrial SER Estimation Methodology Based on Simulation Coupled with One-Time Neutron Irradiation Testing,” IEEE Transactions on Nuclear Science, in early access.
DOI: 10.1109/TNS.2023.3280190

プレスリリース (宇宙線のミュオンと中性子が引き起こす 半導体ソフトエラーの違いを解明)

ソシオネクストとの共同研究研究について、高エネルギー加速器研究機構 物質構造科学研究所、京都大学複合原子力科学研究所、大阪大学大学院情報科学研究科から共同プレスリリースを行いました (2021/7/16)。大阪大学在籍時の成果です。

https://www.socionext.com/jp/pr/sn_pr20210716_01j.pdf

https://www.kek.jp/ja/press/20210716/

https://www.kyoto-u.ac.jp/ja/research-news/2021-07-16-0

https://resou.osaka-u.ac.jp/ja/research/2021/20210716_2

プレスリリースのもととなった論文は以下の論文です。

T. Kato, M. Tampo, S. Takeshita, H. Tanaka, H. Matsuyama, M. Hashimoto, and Y. Miyake, “Muon-Induced Single-Event Upsets in 20-nm SRAMs: Comparative Characterization with Neutrons and Alpha Particles,” IEEE Transactions on Nuclear Science, 68(7), pp. 1436-1444, July 2021.