2026年3月23日〜26日に島根県松江市で開催される国際会議IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) 2026に、次の論文が採録されました。
- Ryuto Seki, Masami Utsunomiya, Yu-Guang Chen, Hiromitsu Awano, and Takashi Sato, “Improving Robustness of Leakage-Based MOSFET Reservoir Computing Using Adaptive Pulse-Width Control”, IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) 2026 (accepted).
