2023年5月9日-10日に東京大学で開催されたLSIとシステムのワークショップ 2023で、M2の五味唯美くんが研究成果をポスター発表しました(2023/5/10)。
“ミューオン起因ソフトエラーの物理現象解明に向けた照射実験と解析”
2023年5月9日-10日に東京大学で開催されたLSIとシステムのワークショップ 2023で、M2の五味唯美くんが研究成果をポスター発表しました(2023/5/10)。
“ミューオン起因ソフトエラーの物理現象解明に向けた照射実験と解析”
以下の論文が、2023年7月に米国ボストン市で開催予定のIEEE International Conference on Flexible, Printable Sensors and Systems (FLEPS 2023)に採択されました。本研究は、産業技術総合研究所との共同研究の成果です。
Qin Zhaoxing, Kunihiro Oshima, Kazunori Kuribara, and Takashi Sato, “OPTL: Robust and area-efficient pass gate logic for organic transistors,” in Proc. IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS), to appear.
2023年3月26~3月30日にアメリカ・カリフォルニア州・モントレーで開催された International Reliability Physics Symposium (IRPS)にて、B4の高見がポスター発表を行いました(2023/3/29)。
K. Takami, Y. Gomi, S. Abe, W. Liao, S. Manabe, T. Matsumoto, and M. Hashimoto, “Characterizing SEU Cross Sections of 12- and 28-nm SRAMs for 6.0, 8.0, and 14.8 MeV Neutrons,” Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023.
2023年3月27日~3月30日に東大駒場キャンパスで開催されたInternational Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2023)にて,M1の新山が研究発表を行いました(発表日は30日).
2023年3月26~3月31日にオーストラリア・シドニーで開催された28th Annual Conference on Intelligent User Interfaces (ACM IUI)にて,M1の播磨屋がポスター発表を行いました.
M. Harimaya, R. Shirai, and M. Hashimoto, “Toward Instant 3D Modeling: Highly Parallelizable Shape Reproduction Method for Soft Object Containing Numerous Tiny Position Trackers,”in Companion Proceedings of the 28th International Conference on Intelligent User Interfaces (IUI), pp. 130–133, March 2022.
2023年1月24日〜1月27日にリーガロイヤルホテル小倉で開催された暗号と情報セキュリティシンポジウム(SCIS2023)にて、M2の松岡が研究発表を行いました.
本研究は、株式会社アクセル、北京航空航天大学との共同研究の成果です。
2023年1月17日に佐賀県教育会館で開催された電子情報通信学会MICT研究会にて本研究室M1の平井が研究発表を行いました.
以下の論文が採録されました。原研、東大、産総研との共同研究成果です。2023年3月にカリフォルニア州モントレーで発表します。
K. Takami, Y. Gomi, S. Abe, W. Liao, S. Manabe, T. Matsumoto, and M. Hashimoto, “Characterizing SEU Cross Sections of 12- and 28-nm SRAMs for 6.0, 8.0, and 14.8 MeV Neutrons,” Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), to appear.
台湾台中市のEvergreen Laurel Hotelで11/21-11/23にハイブリッド開催されたAsian Test Symposium (ATS)で佐藤先生が招待講演を行いました(2022/11/23)。
“Evaluation of device characteristic changes in X-ray inspection”