2024年4月に英国スコットランド エジンバラで開催予定のIEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) に、以下の論文が採択されました。本研究は、京都工芸繊維大学との共同研究の成果です。
- Michihiro Shintani, Tetsuro Iwasaki, and Takashi Sato, “Gaussian process-based device model toward a unified current model across room to cryogenic temperatures,” in Proc. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), April 2024. (to appear)
