Conference / Workshop

DAC2024

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2020年7月23日～7月26日に米国サンフランシスコで開催されたACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) 2024 にて以下の2件の研究発表を行いました (発表日は7月25日(小池), 26日(橋本))。DACは、集積回路設計におけるトップ会議です。

  • T. Koike, H. Awano, and T. Sato, “Triplet network-based DNA encoding for enhanced similarity image retrieval,” in Proc. ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), pp.1-6, July 2024.
  • Q. Cheng, Q. Li, L. Lin, W. Liao, L. Dai, H. Yu, and M. Hashimoto, “How accurately can soft error impact be estimated in black-box/white-box cases? — a case study with an edge AI SoC –,” in Proc. ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), pp.1-6, July 2024.
Conference / Workshop

HOST2024

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2024年5月6-9日に米国ワシントンDCで開催された IEEE International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust (HOST) 2024 にて、教員の佐藤が以下の研究発表を行いました（発表日は5月9日）。

  • C. Zhenzhe, T. Sato, and H. Shinohara, “SpongePUF: A modeling attack resilient strong PUF with scalable challenge response pair,” in Proc. IEEE International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust (HOST), pp.244-253, May 2024.
Conference / Workshop

RADECS 2024 採択決定

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以下の論文が、2024年9月にスペインのカナリア諸島で開催予定のEuropean Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) 2024 に採択されました。

Y. Gomi, K. Takami, R. Mizuno, M. Niikura, R. Yasuda, Y. Deng, S. Kawase, Y. Watanabe, S. Abe, W. Liao, M. Tampo, S. Takeshita, K. Shimomura, Y. Miyake, and M. Hashimoto, “Muon-Induced SEU Analysis and Simulation for Different Cell Types in 12-nm FinFET SRAMs,” Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), (accepted, to appear).
K. Takami, Y. Gomi, R. Yasuda, S. Abe, M. Itoh, H. Kanda, M. Fukuda, and M. Hashimoto, “Validating Terrestrial SER in 12- and 28-nm SRAMs Estimated by Simulation Coupled with One-Time Neutron Irradiation,” Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), (accepted, to appear).
K. Takeuchi, K. Sakamoto, Y. Tsuchiya, T. Kato, R. Nakamura, A. Takeyama, T. Makino, T. Ohshima, M. Hashimoto, and H. Shindo, “Cross-Section Prediction Method for Proton Direct Ionization Induced Single Event Upset,” Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), (accepted, to appear).

Award/Conference / Workshop

LSIとシステムのワークショップ

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2024年5月9日-10日に東京大学で開催されたLSIとシステムのワークショップ 2024で、D1の五味唯美くん、田形寛斗くん、M2の福ケ迫遼太くんが研究成果をポスター発表しました(2024/5/10)。

五味唯美，佐藤朗，橋本昌宜，”入力放射線粒子ごとにSRAM複数ビットソフトエラーを正確に観測するシステムの開発”

田形寛斗，佐藤高史，粟野皓光，”ダイナミック比較器とLookup Tableを用いた乗算不要な機械学習向けインメモリアクセラレータ”

福ケ迫遼太，橋本昌宜，白井僚，”微弱なコイル間磁界結合を利用して高効率無線給電と省電力無線通信を両立する磁界式バックスキャッタ通信回路”

五味くんの発表に対して、最優秀ポスター賞（学生部門）が、
田形くんの発表に対して、優秀ポスター賞（学生部門）が、
福ケ迫くんの発表に対して、IEEE SSCS Kansai Chapter Academic Research Awardが、それぞれ授与されました。



研究室からの発表は全件受賞となりました。

Conference / Workshop

DATE 2024

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2024年3月25-27日にスペインのバレンシア市で開催された Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE) 2024 にて、M1の小池くんと教員の佐藤が以下の研究発表を行いました（発表日はそれぞれ25日、27日）。また、橋本先生がパネリストとして Focus session “Resilience of Deep Learning Applications: Where We Are and Where We Want to Go” に登壇しました（27日）。

  • Takefumi Koike, Hiromitsu Awano, and Takashi Sato, “DNA-based similar image retrieval via triplet network-driven encoder,” in Proc. Design, Automation and Test in Europe (DATE), pp.1-2, March 2024.
  • Sosei Ikeda, Hiromitsu Awano, and Takashi Sato, “Fast parameter optimization of delayed feedback reservoir with backpropagation and gradient descent,” in Proc. Design, Automation and Test in Europe (DATE), pp.1-6, March 2024.
Publication

IEEE Transactions on Nuclear Science 論文掲載

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IEEE Transactions on Nuclear Science へ以下の論文が採録されました。本研究は九州大学, 産業技術総合研究所, 高知工科大学, 日本原子力研究開発機構, 高エネルギー加速器研究機構との共同研究です。

Y. Deng, Y. Watanabe, S. Manabe, W. Liao, M. Hashimoto, S. Abe, M. Tampo, and Y. Miyake, “Impact of Irradiation Side on Muon-Induced Single Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs,” in IEEE Transactions on Nuclear Science, doi: 10.1109/TNS.2024.3378216 in press.

Award

SASIMI 2024 Outstanding Paper Award受賞

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2024年3月10日〜11日に台湾台北市で開催されたSASIMI2024において、2件の発表を行いました。また、小池君の論文がOutstanding Paper Awardを受賞しました。

  • Takefumi Koike and Takashi Sato, “Enhancing visual similarities in DNA-based similar image retrieval,” in Proc. Workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), pp.87-92, March 2024.
  • Daisuke Goeda, Tomoki Nakamura, Masuo Kajiyama, Makoto Eiki, Takashi Sato, and Michihiro Shintani, “Experimental study of pass/fail threshold determination based on Gaussian process regression,” in Proc. Workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), pp.221-226, March 2024.
Award

IEICE VLD Excellent Student Author Award for ASP-DAC 2024受賞

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2024年2月28日〜3月2日に開催された電子情報通信学会VLD研究会において、大島君、末光君がIEICE VLD Excellent Student Author Award for ASP-DAC 2024を受賞しました。また、同研究会にて記念講演を行いました。

  • ［記念講演］”絶縁膜ReRAMを用いる高信頼かつ製造時複製可能な有機薄膜トランジスタPUFの実現,” 大島 國弘, 栗原 一徳, 佐藤 高史, 信学技報, vol. 123, no. 390, VLD2023-116, pp. 98-98, 2024年2月.
  • ［記念講演］”Logic Locking over TFHE for Securing User Data and Algorithms,” 末光昂平, 松岡 航太郞, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 信学技報, vol. 123, no. 390, VLD2023-118, pp. 100-100, 2024年2月.
Conference / Workshop

ICMTS2024採録決定

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2024年4月に英国スコットランド エジンバラで開催予定のIEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) に、以下の論文が採択されました。本研究は、京都工芸繊維大学との共同研究の成果です。

  • Michihiro Shintani, Tetsuro Iwasaki, and Takashi Sato, “Gaussian process-based device model toward a unified current model across room to cryogenic temperatures,” in Proc. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), April 2024. (to appear)