カテゴリー: Publication

以下の論文がIEEE Transactions on Nuclear Scienceに採録されました。

Y. Gomi, K. Takami, R. Yasuda, H. Kanda, M. Fukuda and M. Hashimoto, “Quasi Event-Wise Measurement and Simulation of Neutron-Induced Multiple-Cell Upsets in 22-nm and 55-nm SRAMs,” in IEEE Transactions on Nuclear Science, doi: 10.1109/TNS.2026.3675003.

以下の論文がIEEE/ACM Transactions on Computational Biology and Bioinformaticsに採録されました。

• Takefumi Koike, Hiromitsu Awano, and Takashi Sato, “Biologically constrained DNA encoding with triplet networks for similarity image retrieval,” IEEE/ACM Transactions on Computational Biology and Bioinformatics, accepted for publication, doi: 10.1109/TCBBIO.2026.3673740

IEEE Journal of Solid-State Circuits に以下の論文が採録されました。

• Kunyang Liu, Zihan Fu, Gen Li, Hongliang Pu, Zhibo Guan, Xingyu Wang, Shufan Xu, Kiichi Niitsu, and Hirofumi Shinohara, “A Physically Unclonable Function With Less Than 4.16E–7 BER Featuring Secure In-Cell HCI Burn-In and nMOS-Dominant PUF Data Generation,” IEEE Journal of Solid-State Circuits, doi: 10.1109/JSSC.2026.3663657.

以下の論文がIEEE Sensors Journalに採録されました．山形大学との共同研究成果です．

Y. Wang, T. Tanaka, T. Harada, M. Hashimoto, R. Shirai, “A Compact Triaxial Hall Sensor Compatible with Standard CMOS Process Leveraging Horizontal and Vertical Current Flow within Deep N-Well,” in IEEE Sensors Journal, DOI: 10.1109/JSEN.2026.3659496

以下の論文がIEEE Transactions on Nuclear Scienceに採録されました。JAXAとの共同研究成果です。

K. Takeuchi and M. Hashimoto, “Sensitive Volume Allocation Aligned with a Physics-Based Analytical Cross Section Model for Monte Carlo-Based Proton-Induced SEU Simulation,” in IEEE Transactions on Nuclear Science, doi: 10.1109/TNS.2026.3654595.

以下の論文が IEEE Access に採択されました。本発表は京都工芸繊維大学との共同研究の成果です。

• Takamochi Kanda, Sota Kondo, Hiroki Shimomura, Takashi Sato, Hiromitsu Awano, and Koji Yamamoto, “Beamforming feedback-based respiration and heart rate estimation toward firmware-agnostic WiFi sensing,” IEEE Access, Vol.13, pp.146008-146019, August 2025.

以下の論文がIEEE Solid-State Circuits Lettersに採録されました。

Y. Gomi, A. Sato, W. Madany, K. Okada, S. Adachi, M. Itoh, and M. Hashimoto, “A 55-nm SRAM Chip Scanning Errors Every 125 ns for Event-Wise Soft Error Measurement,” in IEEE Solid-State Circuits Letters, doi: 10.1109/LSSC.2025.3589611.

以下の論文が IEEE Access に採択されました。日立製作所との共同研究の成果です。

H. Itsuji, T. Uezono, T. Toba, K. Ito and M. Hashimoto, “A Hardware-Aware Failure-Detection Method for GPU Control-Logic,” in IEEE Access, vol. 13, pp. 113890-113904, 2025, doi: 10.1109/ACCESS.2025.3584759.