プレスリリース (宇宙線のミュオンと中性子が引き起こす 半導体ソフトエラーの違いを解明)

ソシオネクストとの共同研究研究について、高エネルギー加速器研究機構 物質構造科学研究所、京都大学複合原子力科学研究所、大阪大学大学院情報科学研究科から共同プレスリリースを行いました (2021/7/16)。大阪大学在籍時の成果です。

https://www.socionext.com/jp/pr/sn_pr20210716_01j.pdf

https://www.kek.jp/ja/press/20210716/

https://www.kyoto-u.ac.jp/ja/research-news/2021-07-16-0

https://resou.osaka-u.ac.jp/ja/research/2021/20210716_2

プレスリリースのもととなった論文は以下の論文です。

T. Kato, M. Tampo, S. Takeshita, H. Tanaka, H. Matsuyama, M. Hashimoto, and Y. Miyake, “Muon-Induced Single-Event Upsets in 20-nm SRAMs: Comparative Characterization with Neutrons and Alpha Particles,” IEEE Transactions on Nuclear Science, 68(7), pp. 1436-1444, July 2021.

RADECS 2021 採録決定

以下の論文が European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) 2021に口頭発表で採択されました。この研究は台湾国立清華大学のJing-Jia Liou先生との共同研究成果です。

T. Hsu, D. Yang, W. Liao, M. Itoh, M. Hashimoto, and J. Liou, “Processor SER Estimation with ACE Bit Analysis,” Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), to appear.

IEEE Transactions on Nuclear Science 掲載

IEEE Transactions on Nuclear Scienceに以下の2件の論文が掲載されました。加藤氏の論文はソシオネクストとの共同研究、ならびに JST OPERAの研究成果です。Liao氏の論文は、JST OPERA, 科研費基盤(S)ならびにソシオネクストとの共同研究の成果です。

T. Kato, M. Tampo, S. Takeshita, H. Tanaka, H. Matsuyama, M. Hashimoto, and Y. Miyake, “Muon-Induced Single-Event Upsets in 20-nm SRAMs: Comparative Characterization with Neutrons and Alpha Particles,” IEEE Transactions on Nuclear Science, 68(7), pp. 1436-1444, July 2021.

W. Liao, K. Ito, S. Abe, Y. Mitsuyama, and M. Hashimoto, “Characterizing Energetic Dependence of Low-energy Neutron-induced SEU and MCU and Its Influence on Estimation of Terrestrial SER in 65 nm Bulk SRAM,” IEEE Transactions on Nuclear Science, 68(6), pp. 1228-1234, June 2021.

ISCAS 2021

大阪大学の博士後期課程を卒業したDr. TaiYu Cheng氏が、2021/5/23-26にハイブリッド開催された(オンサイトは Daegu, Korea) International Symposium on Circuits and Systems 2021で研究成果を発表しました(2021/5/26)。

T. Cheng and M. Hashimoto, “Minimizing Energy of Dnn Training with Adaptive Bit-Width and Voltage Scaling,” Proceedings of IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), May 2021.