2025年9月21-26日に米国サンディエゴで開催されたIEEE International Test Conference (ITC 2025)で以下の論文を橋本が発表しました(発表日は9/23)。
Q. Cheng, H. Chi, C. Liang, Y. Chao, H. Zhang, Y. Liang, M. Zhang, W. Liao, J. Xiong, J. Liou, M. Hashimoto, and L. Lin, “Genshin: a Generalized Framework with Software-Hardware Co-Design and Pruned Fault Injection for Reliability Analysis,” Proceedings of International Test Conference (ITC), 2025.
