IEEE Transactions on Electron Devices に以下の論文が採録されました。本研究は京都工芸繊維大学との共同研究の成果です。
- M. Shintani, K. Oishi, Y. Nishitani, H. Takayama, and T. Sato, “Comprehensive MOSFET capacitance characterization based on charge trajectories,” IEEE Transactions on Electron Devices, Vol.72, No.7, doi: 10.1109/TED.2025.3572874
