IEEE Journal of Solid-State Circuits (JSSC)に以下の論文の採録が決定しました．
ビアスイッチFPGAに関するCRESTプロジェクトの成果です。
X. Bai, N. Banno, M. Miyamura, R. Nebashi, K. Okamoto, H. Numata, N. Iguchi, M. Hashimoto, T. Sugibayashi, T. Sakamoto, and M. Tada, “Via-Switch FPGA: 65nm CMOS Implementation and Evaluation,” IEEE Journal of Solid-State Circuits, in press.
IEICE Transactions on Fundamentalsに以下の論文の採録が決定しました．
本研究は，大阪大学在籍時の名古屋大学、ソシオネクストとの共同研究成果です．
T. Cheng, Y. Masuda, J. Nagayama, Y. Momiyama, J. Chen, and M. Hashimoto, “Activation-Aware Slack Assignment Based Mode-Wise Voltage Scaling for Energy Minimization,” IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, 採録済.
Y. Masuda, J. Nagayama, T. Cheng, T. Ishihara, Y. Momiyama, and M. Hashimoto, “Low-Power Design Methodology of Voltage Over-Scalable Circuit with Critical Path Isolation and Bit-Width Scaling,” IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, 採録済.
IEEE Transactions on Information Forensics and Security (TIFS)に以下の論文の採録が決定しました．
本研究は，南京航空航天大学との共同研究成果です．
Song Bian, Dur E Shahwar Kundi, Kazuma Hirozawa, Weiqiang Liu, and Takashi Sato, “APAS: Application-specific accelerators for RLWE-based homomorphic linear transformations,” IEEE Transactions on Information Forensics and Security (TIFS), accepted for publication. doi: 10.1109/TIFS.2021.3114032
IEEE Transactions on Nuclear Science (TNS)に以下の論文の採録が決定しました．
2021/3に大阪大学を修士で卒業した伊東くんが筆頭著者で、日立製作所との共同研究成果です。
K. Ito, Y. Zhang, H. Itsuji, T. Uezono, T. Toba, and M. Hashimoto, “Analyzing DUE Errors on GPUs with Neutron Irradiation Test and Fault Injection to Control Flow,” IEEE Transactions on Nuclear Science, in Early Access.
IEEE Transactions on Nuclear Scienceに以下の2件の論文が掲載されました。加藤氏の論文はソシオネクストとの共同研究、ならびに JST OPERAの研究成果です。Liao氏の論文は、JST OPERA, 科研費基盤(S)ならびにソシオネクストとの共同研究の成果です。
T. Kato, M. Tampo, S. Takeshita, H. Tanaka, H. Matsuyama, M. Hashimoto, and Y. Miyake, “Muon-Induced Single-Event Upsets in 20-nm SRAMs: Comparative Characterization with Neutrons and Alpha Particles,” IEEE Transactions on Nuclear Science, 68(7), pp. 1436-1444, July 2021.
W. Liao, K. Ito, S. Abe, Y. Mitsuyama, and M. Hashimoto, “Characterizing Energetic Dependence of Low-energy Neutron-induced SEU and MCU and Its Influence on Estimation of Terrestrial SER in 65 nm Bulk SRAM,” IEEE Transactions on Nuclear Science, 68(6), pp. 1228-1234, June 2021.
IEEE Transactions on Power Electronics (TPEL)に以下の論文が採録されました．