はじめに
地上に降り注ぐ二次宇宙線粒子によって生じる一過性の誤動作 (ソフトエラー)が情報システムの信頼性を決める主要因となっている。これまで、二次宇宙線に含まれる中性子がソフトエラーの主要因として評価技術が構築され、対策技術が蓄積されてきた。一方、ミューオンがソフトエラーを引き起こすことが報告され、先端デバイスでの発生頻度に懸念が集まった。2019年度に開始し2023年度で終了する科学研究費基盤研究(S) 「ミューオン起因ソフトエラー評価基盤技術: 実測とシミュレーションに基づく将来予測 」プロジェクトでは、集積システムの信頼性確保に向けて、ミューオン起因のソフトエラーを正しく理解・評価する技術を確立し、将来デバイスの信頼性動向を明らかにする研究を進めてきた。また基礎物理現象の把握と実測結果の再現性検証によりシミュレーション技術の精度を格段に高める研究に取り組んできた。本報告会では得られた研究成果を報告するとともに、今後の研究の方向性について広く意見交換する。
日時
2024/3/15(金曜) 13:00-17:30
会場
京都アカデミアフォーラム in 丸の内, 大会議室
東京都千代田区丸の内1-5-1 新丸の内ビルディング10階
https://www.kyoto-u.ac.jp/ja/about/facilities/campus/kaf/access
(Zoom併用によるハイブリッド開催)
プログラム
13:00-13:20 「報告会の概要」 橋本昌宜 (京都大学)
13:20-13:40 「ミューオンの概要と大阪大学RCNP-MuSIC」 佐藤朗 (大阪大学)
13:40-14:00 「低エネルギー宇宙線ミューオン計測システムの開発」 亀井智子 (九州大学)
14:00-14:15 休憩
14:15-14:35 「Si原子核のミューオン捕獲で生成する残留核の生成確率測定」新倉潤 (理化学研究所)
14:35-14:55 「Si原子核におけるミューオン原子核捕獲反応から放出される荷電粒子のエネルギースペクトル測定」川瀬頌一郎 (九州大学)
14:55-15:15 「PHITSのミューオン輸送計算機能の改良」安部晋一郎 (日本原子力研究開発機構)
15:15-15:30 休憩
15:30-15:50 「CFET SRAMにおけるシングルイベントアップセットのTCAD解析」 鎌倉良成 (大阪工業大学)
15:50-16:10 「FinFET SRAMにおけるミューオンソフトエラーの測定結果とシミュレーション」 五味唯美 (京都大学)
16:10-16:30 「まとめと今後の展開」橋本昌宜 (京都大学)
16:30-17:30 懇談意見交換会
参加費: 無料
懇談意見交換会費: 1000円 (当日現金払い)
参加申し込み
下記のURLより参加登録をお願いいたします。
申し込み期限は 3/12(火曜) です。
https://forms.gle/9cXAQ77QUKokFtDx5
セキュリティポリシーのため，Googleフォームにアクセスできない方は、下記の情報を hashimoto@i.kyoto-u.ac.jp までお送りください。
メールアドレス
ご氏名
ご所属
対面参加/オンライン参加
懇親会参加/不参加
IEEE会員かどうか
主催 京都大学 情報学研究科 集積システム工学講座
共催 一般社団法人 量子アプリ社会実装コンソーシアム
共催 IEEE CAS 関西チャプター
問い合わせ先
橋本昌宜 (京都大学) hashimoto@i.kyoto-u.ac.jp