第10回ソフトエラー(などの半導体の放射線効果)勉強会

2024/9/4(水曜)
会場
株式会社ソシオネクスト 本社 プレゼンテーションルーム 2階
神奈川県横浜市港北区新横浜2-10-23 野村不動産新横浜ビル
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53名の参加者で活発な議論を行いました。スライドのパスワードは参加者のみにお知らせしています。

プログラム
13:00-13:05 オープニング
セッション1 座長 熊代成孝(ルネサスエレクトロニクス)
13:05-13:40 #1
「SER terend in Bulk-Planar, FOSOI-Planar, Bulk-FinFET, and Bulk-GAA」
上村 大樹(サムスン)
13:40-14:15 #2
「量子計算におけるソフトエラーとその対策に向けた研究開発」
鈴木 泰成 (NTT)

14:15-15:15 休憩 (ポスターセッション)
「12, 28nm SRAMにおけるシミュレーションと1回の照射実験を組み合わせたSER推定手法の評価」
高見 一総(京都大学)
「Measurement of charged particle spectra emitted following muon nuclear capture in Si nuclei」
川瀬頌一郎(九州大学)
「GPU上で動作するTFHEアプリケーションのソフトエラー耐性評価およびエラー検出手法の検討」
吉田正和(京都大学)
「J-PARC陽子照射施設多目的利用の検討」
岩元 大樹(日本原子力研究開発機構)
「MTJ素子を用いたDICEフリップフロップの設計」
高橋 京太郎(千葉大学)
「イベント単位に正確で非経験的な能動学習とハイパーパラメータの適応的調整によるSEU識別」
安田 隆一(京都大学)
「3D フラッシュメモリにおけるトータルドーズ効果のデータパターン依存性の実測評価」
小澤太希(京都工芸繊維大学)
「65 nmバルクプロセスにおける改良型SEILAの耐性評価と22nmバルクプロセスでの試作に向けたMNSEU」
吉田圭汰 (京都工芸繊維大学)

セッション2 座長 Nguyen Tat Trung(SEESE)
15:15-15:50 #3
「宇宙ベンチャー企業の動向を踏まえた宇宙部品評価の今後」
上野 宗孝(JAXA)
15:50-16:25 #4
「物理パラメータに基づくSRAM SEU断面積モデルの拡張と展開」
竹内 浩造(JAXA)
16:25-17:00 #5
「宇宙用半導体試験環境の作り方(理研の場合)~ノウハウや値段も~」
吉田 敦(理化学研究所)

17:00-17:05 クロージング

(徒歩で移動)

17:30- 懇親会
アスリートナチュラル&スチーム Zheng Cai Chang
アクセス

参加費: 社会人 5000円、学生 5000円 (当日現金払い)
懇親会費: 社会人 2000円、学生 1000円 (当日現金払い)

参加申し込み
受付を終了しました。

主催 一般社団法人 量子アプリ社会実装コンソーシアム
共催 IEEE CAS 関西チャプター

問い合わせ先
橋本昌宜 (京都大学) ser2024@vlsi.cce.i.kyoto-u.ac.jp