38名の参加者で活発な議論を行いました。スライドのパスワードは参加者のみにお知らせしています。
2023/9/4(月曜)
会場
京都大学 吉田キャンパス 総合研究9号館北館
(下記地図の63番の建物)
1階 N1講義室
京都市左京区吉田本町
https://www.kyoto-u.ac.jp/ja/access/campus/yoshida/map6r-y
プログラム
13:00-13:05 オープニング
セッション1 座長 川瀬 頌一郎（九州大学）
13:05-13:35 #1
「飛行時間法を用いた10 meV～800 MeVの中性子半導体ソフトエラー断面積測定」
岩下 秀徳 (NTT宇宙環境エネルギー研究所)
13:35-14:05 #2
「コンクリート建屋内における宇宙線中性子束空間分布の実測とシミュレーション」
渡辺 幸信 (九州大学)
14:05-14:15 休憩
セッション2 座長 古田 潤（京都工芸繊維大学）
14:15-14:45 #3
「国内における放射線試験環境（施設利用、試験手法、データ）の在り方について」
棚田 和玖 (SEESE株式会社)
14:45-15:15 #4
「ソフトエラーにおけるJEITAの国際標準化活動」
松山 英也 (株式会社メガチップス)
15:15-16:00 休憩 (ポスターセッション)
「J-PARC陽子照射施設におけるソフトエラー試験」
明午 伸一郎（JAEA/J-PARC）
「12nm FinFETおよび28nm planar SRAMにおけるミューオン起因SEU断面積の評価」
五味 唯美（京都大学）
「低エネルギー宇宙線ミュオン計測システムの開発」
中上 直人（九州大学）
「Impact of Irradiation Side on Muon Induced SEU in 65-nm Bulk SRAMs」
DENG YIFAN（九州大学）
「負ミューオン誘起原子核捕獲反応による生成二次荷電粒子エネルギー分布の測定」
川田 哲平（九州大学）
「α線照射による65 nm bulkプロセスにおけるPMOS及びNMOSトランジスタのSEU感度」
吉田 圭汰（京都工芸繊維大学）
「Characterizing SEU Cross Sections of 12- and 28-nm SRAMs for 6.0, 8.0, and 14.8 MeV Neutrons」
高見 一総（京都大学）
セッション3 座長 加藤 貴志（ソシオネクスト）
16:00-16:30 #5
「スーパーコンピュータ富岳のDRAMエラーの解析」
小林 和淑，上林 幹宜 (京都工芸繊維大学)
16:30-17:00 #6
「中性子ソフトエラーモニタリングに向けた取り組み」
上薗 巧（日立製作所)
17:00-17:05 クロージング
(徒歩で移動)
17:45- 懇親会 (90分から120分程度を予定)
シランカフェ
京都市左京区吉田牛ノ宮町11-1
https://www.shirancafe.com/
参加費: 社会人 5000円、学生 3000円 (当日現金払い)
懇親会費: 社会人 3000円、学生 2000円 (当日現金払い)
参加申し込み
下記のURLより参加登録をお願いいたします。
申し込み期限は 8/28(月曜) です。
https://forms.gle/gcwBSQwkV9QLxdUeA
セキュリティポリシーのため，Googleフォームにアクセスできない方は、
下記の情報を ser2023@vlsi.cce.i.kyoto-u.ac.jp までお送りください。
メールアドレス
ご氏名
ご所属
懇親会参加/不参加
ポスター発表の有無
ポスタータイトル(発表する場合)
主催 一般社団法人 量子アプリ社会実装コンソーシアム
共催 IEEE CAS 関西チャプター
問い合わせ先
橋本昌宜 (京都大学) ser2023@vlsi.cce.i.kyoto-u.ac.jp