2025/9/16(火曜)
会場
九州大学 筑紫キャンパス 総合理工学研究院 E棟 E104室
〒816-8580 福岡県春日市春日公園６-１
アクセス
キャンパスマップ20番の建物です。
プログラム
12:30-12:35 オープニング
セッション1 座長 加藤 貴志 (ソシオネクスト)
12:35-13:10 #1
「粒子線物理工学の視点から探るソフトエラー研究 ― 九大・渡辺研における研究の歩みと今後の展望」
渡辺 幸信 (九州大学)
13:10-13:45 #2
「超小型人工衛星における放射線試験の実際と軌道観測」
増井 博一 (九州工業大学)
13:45-14:20 #3
「ソフトエラー信頼性方程式の開発状況：宇宙・地上の統一とその先」
小林 大輔 (JAXA)
14:20-15:20 ポスターセッション
「原子炉内部ネットワークシステム構築に向けたLNAのTID試験」
成清 泰斗 (東京科学大学)
「PHITSを用いた宇宙地上統一ソフトエラー環境モデルの信頼性調査」
山藤 涼矢（東京大学)
「A Delay-Element-Based Latch for Flip-Flops with Recovery from Double-Node Upsets and Tolerance to Soft Errors Around Clock Edges」
SONG WANG (千葉大学)
「Direct Measurements of Single-Event Burnout Current Induced by Neutron Irradiation in a 1200 V Fast Recovery Diode」
中本 耀 (京都工芸繊維大学)
「圧縮内部状態シーケンスを用いた プロセッサ誤動作検出手法の開発」
田中 知成 (京都大学)
「電荷識別可能な低エネルギー宇宙線ミューオン検出器の開発 」
平林 聖也 (九州大学)
「システム故障に対するFPGA配置配線の影響評価」
森田 真平 (高知工科大学)
「サブ100nmSRAMデバイスの中性子線/陽子線起因エネルギー依存 SEU 断面積の比較」
木内 笠 (NTT宇宙環境エネルギー研究所)
セッション2 座長 鳥羽 忠信 (日立製作所)
15:20-15:55 #4
「Cascode GaN Power Transistor Robust for Single Event Burnout Caused by Neutron Irradiation」
庄野 健 (ルネサスエレクトロニクス)
15:55-16:30 #5
「GPUの高信頼化に向けた軽量ソフトエラー診断技術」
井辻 宏章 (日立製作所)
16:30-17:05 #6
「網羅的なフォールト注入環境構築を目指して」
橋本 昌宜（京都大学)
17:05-17:10 クロージング
懇親会
18:30-20:30
IRISH PUB CELTS（ケルツ） 博多筑紫口店
福岡県福岡市博多区博多駅中央街５−２１ 博多Nビル 1F
https://maps.app.goo.gl/SSvr8DDdVQozAvRi7
参加費: 社会人 3000 円、学生 3000 円 (当日現金払い)
懇親会費: 社会人 2000 円、学生 1000 円 (当日現金払い)
参加申し込み (ポスター発表の申し込みを含む)
受付を終了しました。
主催 一般社団法人 量子アプリ社会実装コンソーシアム
共催 IEEE CAS 関西チャプター
問い合わせ先
橋本昌宜 (京都大学) ser2025@vlsi.cce.i.kyoto-u.ac.jp